
XDL230型號X射線熒光測厚儀憑借的性能和廣泛的應用領域,成為工業檢測領域的明星產品。該儀器采用X射線熒光技術,能夠快速、準確地測量金屬鍍層厚度,適用于多種基材和鍍層組合。
XDL230測厚儀的核心優勢在于其高精度測量能力。儀器采用的X射線熒光技術,通過激發樣品表面鍍層產生熒光,分析熒光強度來確定鍍層厚度。這種非破壞性測量方法確保了樣品完整性,同時提供高的測量精度,滿足工業領域對質量控制的高要求。
儀器設計緊湊輕便,操作界面直觀友好,配備高清顯示屏和簡單易用的菜單系統,使測量過程高效便捷。內置數據存儲功能可記錄大量測量數據,便于后續分析和報告生成。
XDL230廣泛應用于多個工業領域:
電子行業:測量電路板鍍層厚度
汽車制造:檢測零部件鍍層質量
珠寶首飾:評估貴金屬鍍層
航空航天:確保關鍵部件鍍層符合標準
金屬加工:監控鍍層工藝質量
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