菲希爾測厚儀X-RAY XUV 773

菲希爾測厚儀X-RAY XUV 773

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率，使儀器可以達到很小的重復精度和很低的測量下限。XUV非常適合測量很薄的鍍層和痕量分析。菲希爾x射線測厚儀

X-RAY XUV 773采用不同的準直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測量都在*佳的條件下完成。在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。X-RAY XUV 773儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實驗室使用。菲希爾x射線測厚儀

菲希爾測厚儀Fischerscope X-RAY

X-RAY XUV 773一個軟件實現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個功能

擴展統(tǒng)計功能。例如，測量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設(shè)的測量位置

基于基本參數(shù)分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結(jié)果

X-RAY XUV 773距離控制測量（DCM）：無需移動軸即可保持與不規(guī)則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風險

菲希爾x射線測厚儀測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測試儀根據(jù)磁感應方法測量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。儀器符合Basler標準和DIN 32514-1標準，適合于現(xiàn)場檢測，可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內(nèi)以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產(chǎn)品內(nèi)的鐵素體含量。

菲希爾Feritscope FMP30鐵素體含量測試儀用于化工設(shè)備和石油加工廠通常要承受高溫、高壓，同時要耐腐蝕。外部環(huán)境要求所用鋼 材即使在高溫下也要有足夠的耐腐蝕和耐酸性能。如果鐵素體含量太低，焊縫受熱后容易產(chǎn)生裂紋；如果鐵素體含量太高，焊縫將喪失韌性和延展性。對于雙相鋼，如果鐵素體含量太低，焊縫受到張力或發(fā)生振動時容易破裂。